先端材料計測技術の開発と応用
世界トップレベル材料計測基盤コンビネーション
物質・材料に特化した最先端のコア計測技術を有し、そのための世界トップレベルの計測装置を一堂に保有している機関はNIMSだけです。物質の表面から固体の内部まで、さまざまな先端計測技術を用いて高度な計測を実現しています。また、環境エネルギー問題では、環境場に対応したその場解析を、各種計測機器を相補的に組み合わせて実施し、社会のニーズに的確に応えています。
Coutesy of KEK/JAEA J-PARC Center
表面表層から固体内部に至る世界最高水準の先端材料計測基盤を実現し、社会ニーズを踏まえた先進材料研究への応用解析技術を確立します。
| 1. 表面敏感計測 | 単原子分解能でのin-situ最表面ナノプローブ計測と最表面スピン顕微鏡の開発 |
|---|---|
| 2. 表層領域解析 | X線、電子、イオン、光をプローブとする先端表層四次元計測 |
| 3. 先端電子顕微鏡 | 深さ分解能10nmの立体計測技術と単分子分析感度を持つ先端電子顕微鏡技術の開発 |
| 4. 強磁場NMR | 四極子核元素の観測 |
| 5. 強力中性子 | 中性子マルチスケール時分割計測 |
| 6. 放射光計測 | X線動画イメージングとポンプ・プローブX 線分光 |
プロジェクトリーダー
- 藤田 大介（ふじた だいすけ）
