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独立行政法人物質・材料研究機構 高輝度光解析グループ(兼 筑波大学大学院数理物質科学研究科物質・材料工学専攻 X線分光計測研究室)の日本国内向け専用ホームページへようこそ。
 
研究テーマ

1. X線スペクトロメトリ, イメージング 、表面・界面構造計測の新手法・新機器・新データ解析理論ソフトウエアの研究

2. X線技術を通じての環境・エネルギー問題、安全・安心な社会の実現等の社会的な課題への貢献

 

 

「シンクロトロン放射光・X線(最近は中性子も追加)」、「計測・分析」を主キーワードとする分光、イメージング、構造・ダイナミクス等の比較的広い領域で約20年間活動を行ってきています。応用物理・化学・材料と電気・機械・コンピュータ等の専門知識・技術が同居する学際的・分野融合的な研究室です。

 

研究報告書・プレス発表等の資料ダウンロードはこちら!
 

超微量分析についての説明 (約20分の動画)  

 

 
メンバー
2010年6月21日現在の当グループのメンバー(写真はこちら)は次の通りです(卒業生はこちら)
 

 

桜井健次 日本 グループリーダー(筑波大学大学院教授(連係大学院)、チェコ共和国チャールス大学特任教授を兼任)
石井真史 日本 主任研究員
水沢まり 日本 研究業務員
Vallerie Ann Innis-Samson Philippine 筑波大学大学院数理物質科学研究科物質・材料工学専攻D2
Marek Vysinka Czech NIMS ジュニア研究員(チェコ共和国チャールス大学大学院生D2)
Jakub Vaverka Czech NIMS ジュニア研究員(チェコ共和国チャールス大学大学院生D2)
David Behal France インターン学生(フランス レンヌ国立高等化学学校M2)
Kevin Oger France インターン学生(フランス グルノーブル大学理工科学校M2)
Jonas Rylund Glesaaen Norway インターン学生(ノルウエー科学技術大学4年生)

 
桜井健次(グル―プリーダー、教授)の経歴等はこちら!
 
インターン・大学院生受け入れ
当グループは、インターン(学部生、大学院生 、他に高専の方も)を受け入れています。受け入れ期間は最長90日です。締切は毎年2月末と7月末です。
 
当グループは、2004年より筑波大学大学院の運営に参加し、前期課程 (修士号取得)、後期課程(博士号取得)の大学院生を受け入れています。詳しくは、こちら!
最近のインターン生、大学院生の研究テーマの題目は以下の通りです。
 
・Analysis of thin films by X-ray reflectivity and in-plane X-ray diffraction
・X-ray evaluation of inorganic luminescent materials
・Structural studies of the cerium-aluminium system during high-energy ball milling

・「X線反射率法によるPVA薄膜界面の評価に関する研究」
・Nano-structure analysis of surfaces and buried interfaces in function of thin films by X-ray reflectivity and X-ray diffraction.
・Morphology of nano-sized gadolinium particles prepared by gas-deposition method
 
受託研究・共同研究
当グループでは、 企業や各種機関に対する技術指導ならびに共同研究を毎年実施しています。Non-disclosure agreement (NDA,秘密保持契約)を締結したうえでの協力も致します。また筑波大学の研究室において奨学寄付金を常時受け入れております。詳しくは、下記へご連絡ください。手続きの詳細をご説明いたします。
 
連絡先
〒305−0047 茨城県つくば市千現1−2−1
独立行政法人 物質・材料研究機構
高輝度光解析グループ
桜井 健次
 
電話 029-859-2821   FAX  029-859-2801
E-mail  sakurai@yuhgiri.nims.go.jp 
 

ご注意 yahoo.* gmail.* あるいは *.com 等のアドレスからのメールはサーバーにより自動的にはねられる可能性があります。その場合は、大変お手数ですが、FAX, 電話等でその旨、お知らせください。直ちに当該アドレスが通るように設定いたします。)